粗糙度檢測(cè)儀的精度并非固定值,會(huì)因測(cè)量類型、儀器型號(hào)及應(yīng)用場(chǎng)景差異較大,其中接觸式和非接觸式兩類主流檢測(cè)儀的精度表現(xiàn),以及特殊場(chǎng)景下的超高精度設(shè)備情況如下:
接觸式粗糙度檢測(cè)儀
這類儀器靠金剛石觸針掃描表面測(cè)量,精度適配多數(shù)工業(yè)精密檢測(cè)需求,不同定位的設(shè)備精度有明顯區(qū)別。普通便攜式設(shè)備如歐譜 OU1200,示值精度達(dá) 0.001μm,Ra 參數(shù)示值誤差≤±7%;上海研潤(rùn) 2207 型的垂直最小分辨力達(dá) 0.6nm,Ra 示值誤差≤±5%。而gao端精密機(jī)型精度更突出,如中圖儀器 SJ5800 接觸式一體機(jī),分辨率能達(dá)到 0.1nm,系統(tǒng)殘差小于 3nm;英示部分機(jī)型的粗糙度測(cè)量精度(Ra)為 ±(2% Ra + 0.015)μm,Z 軸測(cè)量分辨率達(dá) 0.0001μm。
非接觸式粗糙度檢測(cè)儀
這類儀器基于激光、白光干涉等原理,無(wú)磨損且適配超精密或易損表面測(cè)量,部分gao端設(shè)備可達(dá)納米級(jí)甚至亞納米級(jí)精度。比如常規(guī)非接觸式激光輪廓儀精度約 ±0.01μm;集萃中科光電的白光干涉儀 MTMI100,粗糙度測(cè)量精度達(dá) 0.003nm,重復(fù)性誤差<1%;共聚焦顯微鏡的深度精度 ±5nm,原子力顯微鏡更是能實(shí)現(xiàn) 0.1nm 的超高分辨率,可滿足納米級(jí)粗糙度測(cè)量需求。
此外,不同粗糙度參數(shù)對(duì)應(yīng)的測(cè)量精度也有細(xì)分標(biāo)準(zhǔn),例如測(cè)量 Rz(最大高度粗糙度)時(shí)參數(shù)精度可達(dá) ±0.1μm,Rt(總高度粗糙度)測(cè)量誤差≤2%,Rsk(偏斜度)測(cè)量精度 ±0.05,這些參數(shù)精度會(huì)隨儀器本身性能同步匹配調(diào)整。